跌落試驗之目的通常為模擬兩種跌落情況，一種為產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中因裝載或搬運(yùn)不慎造成掉落地面所遭受之撞擊，此種掉落環(huán)境通常產(chǎn)品為包裝狀態(tài)，另一種環(huán)境系針對手持式產(chǎn)品如：手機(jī)、MP3、PDA等在沒有包裝保護(hù)狀態(tài)下因使用不當(dāng)而使產(chǎn)品掉落地面產(chǎn)生撞擊。

規(guī)格參數(shù)：